シンポジウム

オペランド計測の最新動向と次世代の方向性

プログラムおよび招待講演者

10月14日(木) 9:00- 11:50, A会場 (Zoom) 
9:00 - 9:20
       シンポジウム「オペランド計測の最新動向と次世代の方向性」趣旨説明
　　赤木 浩（JST-CRDS）
9:20 - 9:55
       オペランド三次元XAFS分光イメージングによる固体触媒の構造・機能の可視化 (AII-01)
　　唯 美津木（名古屋大学）
9:55 - 10:30
       各種分光測定を用いたリチウムイオン電池材料の分析・評価 (AII-02)
　　青木 靖仁（東レリサーチセンター）
(10:30 - 10:40 休憩) 
10:40 - 11:15
       ケルビンプローブフォース顕微鏡によるオペランド電位計測技術 (AII-03)
　　石田 暢之（物質・材料研究機構）
11:15 - 11:50
       ラマン散乱顕微鏡とデータ科学 (AII-04)
　　藤田 克昌（大阪大学）