講座

X線分光の現在
VI.　 X線でフォノンを見る−主として不規則系について

Modern X-ray Spectroscopy
VI.　 Using X-rays to probe phonons - mainly in disordered materials

細川伸也
Shinya HOSOKAWA

X線非弾性散乱によるフォノンの研究は，第三世代放射光光源や最新の半導体技術，およびそれらの卓越した利用技術により，meVオーダーの高エネルギー分解能を達成した結果，最近めざましい進歩を遂げている．本稿では，X線を用いたフォノンの研究の歴史，X線非弾性散乱の原理，中性子非弾性散乱と比較した場合の特性（卓越性および短所）を説明した後，SPring-8のビームラインBL35XUに建設された優れた高エネルギー分解能スペクトロメータの解説を行った．また，最後に，それを用いて最近行われた研究成果の例を，非結晶物質を中心に紹介した．

Recently, studies of phonons by inelastic x-ray scattering (IXS) technique with a high energy resolution of meV order have considerably developed by using an excellent technique for utilizing third-generation synchrotron radiation facilities and recent progress of semiconductor technique. In this article, the history of studies of phonons using x-rays, the principle of IXS and the advantage (disadvantage) of IXS are briefly reviewed by comparing to inelastic neutron scattering, and an excellent IXS spectrometer installed at the beamline BL35XU of the SPring-8 is introduced. Finally, examples of recent studies performed at BL35XU/SPring-8 are introduced in mainly disordered systems.

Keywords: Synchrotron radiation, Dynamics, Inelastic scattering, X-ray, Phonon, Non-crystalline