講座

X線分光の現在
IV.　X線吸収微細構造分光法

Modern X-ray Spectroscopy
IV.　X-Ray Absorption Fine Structure Spectroscopy

雨宮健太
Kenta AMEMIYA

X線吸収微細構造(XAFS; X-ray Absorption Fine Structure)分光法は，長距離的な周期構造を持たない試料に対しても，元素選択的に原子の配置(構造)および電子状態を調べることのできる強力な手法である。最近ではシンクロトロン放射光施設の整備によって，専門家でなくてもその恩恵にあずかることができるようになってきている。本稿ではXAFSの基礎を解説しながら，どのようにして上記のような情報が得られるかを説明するとともに，X線の偏光特性の利用と時間分解測定についても紹介する。

XAFS (X-ray Absorption Fine Structure) is a powerful technique, which provides element-specific information on atomic and electronic structures even for samples without long-range periodic structure. Owing to the recent developments of synchrotron radiation facilities, it has become possible also for non-expert researchers to obtain such information using XAFS. In this lecture, the basic concept and analytic procedures are presented including the utilization of X-ray polarization and time-resolved measurements.

Keywords: X-Ray Absorption Fine Structure, Atomic Structure, Electronic Structure, Polarization Dependence, Time-Resolved Measurements