第8回新材料とデバイスに対する
原子レベル・キャラクタリゼーションに関する国際会議(ALC‘11)
8th International Symposium on Atomic Level Characterizations for
New Materials and Devices ’11 (ALC’11)

開催日時 2011年 5月22日(日)〜27日(金)
開催場所 Olympic Parktel (韓国・ソウル)
会合の内容 新材料(バイオ・無機・有機材料を含む)および新デバイスの原子スケールキャラクタリゼーション・イメージング・分析法・分析装置に関する研究発表.表面・界面の新分析装置や新しい応用の発表.具体的には,電子・イオン・赤外・紫外・X線等を用いたキャラクタリゼーション(AES / XPS / XPED / EPMA / ISS / MEIS / RBS / SIMS / IR /),イメージング技術(TEM / STEM / AEM / SEM / SAM / TOF-SIMS / SPM / REM / LEEM / PEEM / FIM),ナノ技術(ナノワイア/ナノチューブ/ナノ粒子 / ナノカーボン, 生態・医療,固固・固液界面),惑星・環境物質キャラクタリゼーション,スピン偏極電子線,グラフェンと関連物質などに関する研究発表
主催団体 (独)日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委員会
協賛・後援団体

日本表面科学会(予定)
応用物理学会(予定) など

参加申し込み
締め切り

2010年11月30日(火)

参加費 2011年2月22日(火)まで 一般 $500 / 学生 $250
2011年2月23日(水)以降 一般 $600 / 学生 $300
問い合わせ先 団体名:京都大学大学院工学研究科
担当者名:鈴木 基史
TEL:075-753-5196/FAX:075-753-5196
e-mail:alc11@jsps141.surf.nuqe.nagoya-u.ac.jp
URL:http://alc.surf.nuqe.nagoya-u.ac.jp/alc11/