主 催 |
(社)日本分析化学会 X線分析研究懇談会 |
協 賛 |
(社)日本化学会ほか |
会 期 |
2010年10月22日(金)・23日(土) |
会 場 |
広島県情報プラザ 多目的ホール
[〒730-0052 広島市中区千田町3丁目7−47
交通:JR広島駅(南口)より市内電車、紙屋町経由広島港行(1番)広電本社前下車 徒歩7分]
(
交通の詳細は http://www.hiwave.or.jp/kikou/akusesu.htm#1 を参照) |
討論主題 |
(申込書に主題番号を明記)
(1) |
X線分析の材料解析への応用 |
(2) |
X線イメージングおよび顕微分析 |
(3) |
X線検出器の開発と新規分析法への展開 |
(4) |
X線吸収分光法とその応用 |
(5) |
表面分析(XPS, TXRF) |
(6) |
その他 |
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講演申込要項 |
1. |
講演内容は未発表のものに限ります。 |
2. |
依頼講演に加え、口頭発表とポスター発表を受け付けます。口頭発表では討論主題ごとのセッションをつくる予定ですので、申し込みにあたっては主題番号を明記して下さい。ただし、ポスター発表に変更していただく場合もありますので、ご了承ください。 |
3. |
依頼講演は1講演40分(討論5分を含む)、口頭発表は1講演20分(討論5分を含む)の予定です。液晶プロジェクタ( Windowsパソコンを用意します)での発表を基本とします。 |
4. |
申込講演の採否及びブログラム編成は実行委員会に一任願います。 |
5. |
講演者は後日参加登録してください。依頼講演者も参加登録料をお支払いいただきます(参加登録料:一般予約4,500円,一般当日6,000円,学生2,000円,ミキサー1,000円)。 |
ミキサー |
10月 22日(金) 広島県情報プラザ1Fレストラン マルコポーロ(予定) |
講演申込締切日 |
7月23日(金)【必着】 |
講演要旨締切日 |
9月24日(金)【必着】 |
予約登録締切日 |
10月8日(金)【必着】 |
講演申込方法 |
下記ホームページにアクセスの上、申込用紙に発表題目等の必要事項を記入し、Eメールにて送信して下さい(やむを得ない場合は申込用紙のFAXも可)。
詳細および最新情報は以下のホームページを御覧下さい。
http://home.hiroshima-u.ac.jp/hayakawa/X46/index.html |
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講演申込先・
要旨原稿送付先 |
〒739-8527 東広島市鏡山1-4-1
広島大学大学院工学研究科 早川 慎二郎
電話:082-424-7609
E-mail: hayakawa@hiroshima-u.ac.jp
〒141-0031 東京都品川区西五反田1-26-2五反田サンハイツ 304号
社団法人日本分析化学会 X線分析研究懇会
電話:03-3490-3351,FAX:03-3490-3572
E-mail:hm_tanaka@jsac.or.jp |