| 主 催 |
独立行政法人 科学技術振興機構（JST) |
| 開催日時 |
2010年3月11日（木） 13:00-18:30 |
| 開催場所 |
都市センターホテル 5階
（東京都千代田区平河町2-4-1） |
| 開催趣旨 |
CREST「物質現象の解明と応用に資する新しい計測・分析基盤技術」研究領域は、X線、電顕、NMR、MS、SPM、電子分光、アトムプローブをはじめとする広い分野の計測・分析技術をカバーしています。領域発足から5年が経過し、【世界最高分解能】、【世界最高感度】、【世界初】の成果が幅広く達成されつつあります。本シンポジウムでは、本領域が積み上げてきた研究成果のうち、特にCRESTにより発展した研究の中から6件の口頭発表、全15テーマの研究開発概要をポスターにて紹介し、開発の目的と成果及び期待される実用展開を説明いたします。計測・分析機器開発の研究開発戦略や実用化等の諸活動に活かしていただけるよう、多くの方々のご参加をお待ちしております。プログラム等詳細は、下記URLにてご確認ください。
http://busshitu.jst.go.jp/sympo_vol1/index.html |
| 参加費 |
無料 |
| 参加申し込み方法 |
上記のURLをご参照願います。 |
| 問い合わせ先 |
JST CREST「物質現象の解明と応用に資する新しい計測・分析基盤技術」領域
領域担当 宮下由美子
TEL：03-3512-3524／Fax：03-3222-2064
e-mail：crest＠jst.go.jp |