| プログラム |
11月25日（水）
| 10:00〜11:20 |
表面・界面分析概論・電子プローブX線マイクロアナライザ SEM-EDX
副島啓義（島津） |
| 11:30〜12:30 |
赤外分光とラマン分光の基礎と実際
吉川正信（東レリサーチ） |
| 12:30〜13:50 |
（昼食）
分析相談コーナー
講師全員
放射光を利用した表面電子状態の分析案内（パネル）
寺岡有殿 （原子力機構） |
| 13:50〜14:50 |
オージェ電子分光法による表面分析の基礎
岩井秀夫（物質・材料研究機構） |
| 15:00〜16:00 |
X線光電子分光法と関連分析の基礎
河合 潤（京大） |
| 16:10〜17:00 |
総合討論
講師全員（司会：加連明也） |
11月26日（木）
| 9:10〜10:10 |
イオン散乱分析の基礎と高分解能ラザフォード後方散乱
中嶋 薫 （京大） |
| 10:20〜11:20 |
二次イオン質量分析法による表面解析の基礎(D-SIMS,S-SIMS,TOF-SIM）
森田弘洋（パナソニック） |
| 11:30〜12:30 |
高分解能電子顕微鏡と断面TEM試料作製（HRTEM,STEM,3D-TEM）
一色俊之（京都工繊大） |
| 12:30〜13:40 |
（昼食）
分析相談コーナー
講師全員 |
| 13:40〜14:40 |
走査プローブ顕微鏡の基礎と極限計測
重川秀実（筑波大） |
| 14:50〜16:10 |
表面X線・電子線回折、X線反射率法の基礎(やさしい逆空間の理解)
藤居義和（神戸大） |
| 16:20〜17:00 |
総合討論
講師全員（司会：大門 寛） |
詳細はURL（http://www.sssj.org/KisoKouza/kiso48.html）をご参照ください。 |