第15回全反射蛍光X線分析法国際会議および第49回X線分析討論会合同会議
15th International Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods, and the 49th Annual Conference on X-Ray Chemical Analysis (TXRF2013)

 

期 日 2013年9月23日(月)〜27日(金)
会 場 大阪市立大学(杉本キャンパス)学術情報総合センター(大阪市住吉区)
主 催 日本分析化学会X線分析研究懇談会
共 催 (公社)応用物理学会、(公社)日本化学会、(公社)分析化学会ほか
内 容 全反射蛍光X線分析法の装置開発と応用に関する国際会議で、蛍光X線による半導体表面などの微量分析から遺跡、絵画、食品などの環境・実用分析まで幅広い研究分野を網羅した総合的な国際会議。9月26日(木)には懇親会を予定。
事前参加登録
締め切り
9月16日(月)、当日申し込みも可能
参加費 一般:25,000円(6/30まで)、35,000円(7/1以降)
問い合わせ 〒558-8585 大阪市住吉区杉本3-3-138
大阪市立大学大学院工学研究科化学生物系専攻  辻 幸一
TEL/FAX : 06-6605-3080
E-mail : tsuji@a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp

詳細はホームページ(http://www.a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp/txrf2013/)をご覧ください。