第61回表面科学基礎講座
主　催 日本表面科学会
期　日 ２０１６年７月５日(火)〜７月７日(木)
会　場

東京理科大学　森戸記念館　第一会議室
〒162-8601
東京都新宿区神楽坂4-2-2　TEL 03-5228-8110

プログラム 第1日（7月5日）
  1. 表面・界面分析概論（ｼｴﾝﾀｵﾐｸﾛﾝ）野副尚一
  2. 真空技術基礎（ｼｴﾝﾀｵﾐｸﾛﾝ）大岩烈
  3. 表面の特性基礎（東工大）木口学
  4. Ｘ線光電子分光法(XPS)（富士通研）中村誠
  5. オージェ電子分光法(AES)（物材機構）岩井秀夫
第2日（7月6日）
  1. 電子回折法(RHEED/LEED)(大同大）堀尾吉巳
  2. イオンプローブ基礎（コベルコ科研）笹川薫
  3. 薄膜X線測定法（XRD/XRR）（リガク）稲葉克彦
  4. 走査電子顕微鏡、電子ﾌﾟﾛｰﾌﾞﾏｲｸﾛｱﾅﾗｲｻﾞ(SEM/EPMA)（島津）林広司
  5. 透過電子顕微鏡（TEM/STEM/EDS/EELS）（大阪大）保田英洋
第3日（7月7日）
  1. 二次イオン質量分析法(ｽﾀﾃｨｯｸSIMS) （旭化成）河野禎市郎
  2. SPMの基礎と応用（東工大）中嶋健
  3. 放射光表面構造解析（慶応大）近藤寛
  4. 表面における赤外分光法、ラマン分光法（筑波大）石橋孝章
  5. 界面分析としての電気化学測定基礎（物材機構）野口秀典
受講料

協賛学協会会員：40,000円，学生：10,000円
申込締切 6月29日（水）　定員100名（申込先着順締切）
申込及び問合せ先 公益社団法人日本表面科学会
〒113-0033東京都文京区本郷2-40-13本郷コーポレイション402
TEL：03-3812-0266　　FAX：03-3812-2897
E-mail：shomu@sssj.org　URL：http://www.sssj.org