大阪大学 コンベンションセンター
(大阪府吹田市山田丘1-1)　

1. 表面・界面分析概論、真空技術基礎（奈良先端大）大門　寛
2. 走査プローブ顕微鏡（SPM）（大阪大）菅原康弘
3. 放射光を利用した表面分析相談（パネル）（コベルコ科研）高橋 真
4. 走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ（SEM/EPMA）（島津製作所）林　広司
5. 透過電子顕微鏡（TEM, STEM, EDS, EELS）（大阪大）保田英洋
6. イオン散乱分光法（コベルコ科研）笹川　薫

1. 二次イオン質量分析法（D-SIMS/S-SIMS）（パナソニック）竹野文人
2. 赤外分光法、ラマン分光法（東レリサーチセンター）関　洋文
3. オージェ電子分光法（AES）（日本電子）池尾信行
4. X線光電子分光法（XPS）（富士通研）中村　誠
5. 表面回折手法（RHEED/LEED）（大同大）堀尾吉已

協賛学協会会員：30,000円　学生：5,000円， その他：35,000円(テキスト代，消費税を含む）