| 主 催 |
日本表面科学会 |
| 期 日 |
2015年6月30日(火)〜7月2日(木) |
| 会 場 |
東京理科大学 神楽坂キャンパス 1号館17階大会議室
東京都新宿区神楽坂1-3 TEL 03-3260-4271 |
| プログラム |
第1日（6月30日）
- 表面・界面分析概論（中央大）野副尚一
- SPMの基礎（筑波大）重川秀実
- SPMの応用（東北大）中嶋健
- 走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ(SEM/EPMA)
（島津）林広司 ほか
第2日（7月1日）
- 表面の特性基礎（東工大）木口学
- 電子線回折法(RHEED/LEED)(大同大）堀尾吉巳
- 放射光表面構造解析（慶応大）近藤寛
- 測定データ取扱いの基礎(慶応大) 太田英二 ほか
第3日（7月2日）
- 真空技術基礎（オミクロン ナノテクノロジー）大岩烈
- 紫外光電子分光(UPS)（高エネ研）組頭広志
- Ｘ線光電子分光法(XPS)（富士通研）中村誠
- オージェ電子分光法(AES)（物材機構）岩井秀夫 ほか
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| 受講料 |
協賛学協会会員：40,000円，学生：10,000円 |
| 申込締切 |
6月24日（水） 定員100名（申込先着順締切） |
| 申込及び問合せ先 |
公益社団法人日本表面科学会
〒113-0033東京都文京区本郷2-40-13本郷コーポレイション402
TEL：03-3812-0266 FAX：03-3812-2897
E-mail：shomu@sssj.org URL：http://www.sssj.org |