| 主 催 |
日本表面科学会 |
| 期 日 |
2014年7月1日(火)〜3日(木) |
| 会 場 |
東京理科大学 神楽坂キャンパス 1号館１７階大会議室
東京都新宿区神楽坂１−３ TEL 03-3260-4271
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| プログラム |
第１日（７月１日）
１．表面・界面分析概論（中央大）野副尚一
２．SPMの基礎（筑波大）重川秀実
３．SPMの応用（東北大）中嶋健
４．走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ(SEM/EPMA)
（島津）林広司 ほか
第２日（７月２日）
１．表面の特性基礎（東工大）木口学
２．電子線回折法(RHEED/LEED)(大同大）堀尾吉巳
３．放射光表面構造解析（慶応大）近藤寛
４．測定データ取扱いの基礎(慶応大) 太田英二 ほか
第３日（７月３日）
１．真空技術基礎（オミクロン ナノテクノロジー）大岩烈
２．紫外光電子分光(UPS)（高エネ研）組頭広志
３．Ｘ線光電子分光法(XPS)（富士通研）中村誠
４．オージェ電子分光法(AES)（物材機構）岩井秀夫 ほか
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| 受講料 |
協賛学協会会員：40,000円 学生：10,000円
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| 申込締切 |
6月25日（水） 定員100名（申込先着順締切） |
| 申込及び問合せ先 |
日本表面科学会 TEL：03-3812-0266
〒113-0033東京都文京区本郷2-40-13本郷コーポレイション402
TEL：03-3812-0266 FAX：03-3812-2897
E-mail：shomu@sssj.org URL：http://www.sssj.org |