| 主 催 |
日本表面科学会 |
| 協 賛 |
日本分光学会ほか |
| 期 日 |
2014年6月4日(水)〜5日(木) |
| 会 場 |
大阪大学コンベンションセンター(大阪府吹田市山田丘1-1) |
| プログラム |
第1日（6月4日）
1.表面・界面分析概論、真空技術基礎（奈良先端大）大門 寛
2.走査プローブ顕微鏡（SPM）（大阪大）菅原康弘
3.放射光を利用した表面分析相談（パネル）（原子力機構）吉井賢資
4.走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ（SEM/EPMA）（島津製作所）林 広司
5.透過電子顕微鏡（TEM,STEM）（大阪大）保田英洋
6.イオン散乱分光法（京都大）中嶋 薫
第2日（6月5日）
1.二次イオン質量分析法（D-SIMS/S-SIMS）（パナソニック）森田弘洋
2.表面における赤外分光法、ラマン分光法（東レリサーチセンター）村木直樹
3.オージェ電子分光法（AES）（日本電子）池尾信行
4.X線光電子分光法（XPS）（富士通研）中村 誠
5.表面回折手法（RHEED/LEED）（大同大）堀尾吉已 |
| 受講料 |
協賛学協会会員：30,000円 学生：5,000円
その他：35,000円(テキスト代，消費税を含む） |
| 申込締切 |
5月30日（金） 定員100名（申込先着順締切） |
| 申込及び問合せ先 |
日本表面科学会 TEL：03-3812-0266
〒113-0033東京都文京区本郷2-40-13本郷コーポレイション402
E-mail：shomu@sssj.org URL：http://www.sssj.org |
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