| 主 催 |
日本表面科学会 |
| 協 賛 |
日本分光学会、日本放射光学会 ほか |
| 日 時 |
2013年3月19日(火) 13：00〜17：50 |
| 会 場 |
東京理科大学 森戸記念館 第１会議室
(新宿区神楽坂2-13-1 TEL：03-3260-0725) |
| プログラム |
- 「三次元走査型光電子顕微鏡によるナノスケール表面・界面の局所電子状態観測」
堀場 弘司（高エネルギー加速器研究機構）
- 「光電子回折分光による局所電子状態解析」
松井 文彦（奈良先端科学技術大学院大学・物質創成科学研究科）
- 「高分解能Ｘ線タイコグラフィーの現況と将来展望」
高橋 幸生（大阪大学・大学院工学研究科）
- 「先端増強近接場分光法」
早澤 紀彦（理化学研究所）
- 「STEM/EELSによる原子レベル化学状態分析」
溝口 照康（東京大学・生産技術研究所）
- 「PEEMを用いた局所電子状態測定の新展開」
小嗣 真人（高輝度光科学研究センター）
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| 参加費 |
（テキスト代、消費税含む)
会員（協賛学協会員含む）2,000円, 学生 1,000円, 一般 4,000円 |
| 申込方法 |
（締切 2013年3月12日(火)）
URL（http://www.sssj.org/）にて参加登録をして下さい。 |
| 問合せ先 |
〒226-8503 横浜市緑区長津田町 4259
東京工業大学 大学院総合理工学研究科 中辻寛 |