第54回表面科学基礎講座「表面・界面分析の基礎と応用」

　
主　催 日本表面科学会
協　賛 日本分光学会ほか
期　日 2012年10月16日(火)〜17日(水)
会　場 大阪大学　コンベンションセンター
大阪府吹田市山田丘1-1
プログラム 第1日（10月16日）
  1. 表面・界面分析概論、真空技術基礎
    （大阪電通大）越川孝範
  2. 走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ（SEM/EPMA）
    （島津製作所）林　広司
  3. 走査プローブ顕微鏡（SPM）
    （大阪大）菅原康弘
  4. イオン散乱分光法
    （京都大）中嶋　薫
  5. 二次イオン質量分析法（D-SIMS/S-SIMS）
    （パナソニック）森田弘洋
第2日（10月17日）
  1. 表面における赤外分光法、ラマン分光法
    （東レリサーチセンター）村木直樹
  2. 表面回折手法（RHEED/LEED）
    （大同大）堀尾吉已
  3. 放射光を利用した表面分析相談（パネル）
    （原子力機構）寺岡有殿
  4. X線光電子分光法（XPS）
    （京都大）河合　潤
  5. オージェ電子分光法（AES）
    （日本電子）池尾信行
  6. 透過電子顕微鏡（TEM,STEM）
    （京都工繊大）一色俊之
受　講　料 協賛学協会会員：30,000円　学生：5,000円，
その他：35,000円(テキスト代，消費税を含む）
申込締切 10月5日（金）
定　員 100名（申込先着順締切）
申込及び問合せ先 日本表面科学会　　TEL：03-3812-0266
〒113-0033東京都文京区本郷2-40-13本郷コーポレイション402
E-mail：shomu@sssj.org　URL：http://www.sssj.org